快速溫度變化試驗(yàn)箱:升降溫速率為定制,采用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí),產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該產(chǎn)品于使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失。
運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí),產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該產(chǎn)品于使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以應(yīng)力篩選是100%對產(chǎn)品進(jìn)行的程序。本設(shè)備廣泛應(yīng)用于電工電子、高新材料、儀器儀表、LED光電、LCDLCM、汽車部件、家電、科研、零部件、燈具、裝備等行業(yè)。
工作方式 | 程式交變運(yùn)行 /恒定運(yùn)行 | ||||||
溫度范圍 | -70℃ ~ +150℃ | ||||||
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | ||||||
溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
容積 | 80L | 150L | 225L | 408L | 800L | 1000L | |
內(nèi)尺寸 | 高 | 500 | 600 | 750 | 850 | 1000 | 1000 |
寬 | 400 | 500 | 500 | 600 | 1000 | 1000 | |
深 | 400 | 500 | 600 | 800 | 800 | 1000 | |
升/降溫速率 | 降溫1~15℃/min,速率可定制,線性或非線性; 升溫1~15℃/min,速率可定制,線性或非線性; 備注:以上指標(biāo)均在25℃、常壓、空載條件下測試。 | ||||||
冷卻方式 | 水冷 | ||||||
污染電磁輻射 | 符合相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)要求 |
GB/T 5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
B/T 10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GJB 150.3A軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱
GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))