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發(fā)布日期:2024/6/28
有效日期:2024/12/27
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一、高低溫試驗室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗室 產品用途:
適用于對大批量、大尺寸的電工電子及其他產品、零部件、材料以及整車進行高溫、低溫貯存試驗、高低溫循環(huán)試驗、環(huán)境應力篩選、可靠性鑒定、驗收試驗、高低溫濕熱交變試驗、恒定濕熱試驗等。模擬溫濕度變化條件下被試件對環(huán)境條件適應性,并對其進行質量及可靠性測試。
二、設備安裝、測試使用環(huán)境要求:
三、高低溫試驗室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗室 試樣限制
四、高低溫試驗室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗室 技術參數:
濕度:±0.1%RH
降溫約1.5℃/min;
±5.0%RH(濕度≤75%RH時);
五、以下標準供參考:
GB/T2423.1-2001低溫試驗
GJB150A.4-2009 設備環(huán)境試驗方法-低溫試驗
GJB4.3-83、GJB4.4-83 低溫試驗
GB/T2423.2—2001高溫試驗
GJB150A.3-2009 設備環(huán)境試驗方法-高溫試驗
GJB4.2-83 高溫試驗
GB/T2423.22—2002溫度變化試驗
GJB150A.5—86溫度變化試驗
GB/T2423.3—2006 恒定濕熱試驗
GJB4.5-83恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗
GJB150A.9-2009 設備環(huán)境試驗方法-濕熱試驗
GJB4.6-83 濕熱試驗
溫度/濕度組合循環(huán)試驗:GB2423.34—2012
GB10586濕熱試驗箱技術條件
GB10592高低溫試驗箱技術條件
GB/T5170.1基本參數檢定方法 總則
GB/T5170.2基本參數檢定方法
GB/T5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備
基本參數檢定方法:GB5170.18 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備
環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范:JJF1101—2003
六、高低溫試驗室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗室 結構